Principal
Instrumentación
Microscopio metalográfico del Olimpo gx51
Microscopio de medición de herramientas
Microscopio de herramientas Nikon mm - 800
Serie 378 - microscopía para pruebas de semiconductores
Microscopio metalográfico (claro, campo oscuro, luz polarizada)
Microscopio metalográfico de Cai si axio imager m2m
Microscopio de luz polarizada xpl - 20
Microscopio de herramientas Nikon mm - 200
Microscopio metalográfico dmi20
Microscopio metalográfico dmi40
Microscopio metalográfico dm100
Microscopio metalográfico dmi50
Microscopio de luz polarizada xpl - 30
Microscopio de herramientas Nikon mm - 400
Microscopio metalográfico Leica dm2700m
Microscopio metalográfico de Cai si axio imager a2m
Microscopio estereoscópico xtl - 30
Microscopio metalográfico (transmisión) dm50
Microscopio metalográfico 4xce
Microscopio metalográfico DMI - 4xb
Microscopio de luz polarizada xpl - 10
Serie 378 - microscopio combinado
Microscopio de luz polarizada Nikon lv100pol
Serie 176 - microscopía de medición de alta precisión
Microscopio metalográfico Leica dm2500m
¡¡ la operación fue exitosa!