Principal
Instrumentación
Microscopio metalográfico Leica dm6000m
Microscopio metalográfico del Olimpo gx51
Microscopio de medición de herramientas
Pinzas en forma de cuña
Microscopio de herramientas Nikon mm - 800
Serie 378 - microscopía para pruebas de semiconductores
Microscopio metalográfico (claro, campo oscuro, luz polarizada)
Microscopio metalográfico de Cai si axio imager m2m
Microscopio metalográfico DMI - 4xb
Microscopio de luz polarizada xpl - 10
Serie 378 - microscopio combinado
Pinzas de HILO FINO
Microscopio de luz polarizada Nikon lv100pol
Serie 176 - microscopía de medición de alta precisión
Sistema de Cromatografía líquida de la unidad Agilent
Pinzas neumáticas (estampado cruzado metálico)
Máquina de prueba de tracción
Máquina de prueba semiautomática de taza de visualización digital
Microscopio metalográfico Leica dm2500m
Microscopio de herramientas Nikon mm - 400
Microscopio metalográfico Leica dm2700m
Microscopio metalográfico de Cai si axio imager a2m
Pinzas planas neumáticas
Microscopio estereoscópico xtl - 30
¡¡ la operación fue exitosa!