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Serie 378 - microscopía para pruebas de semiconductores
Serie 378 - el sistema óptico del microscopio FS - 70 para pruebas de semiconductores fue desarrollado para el modelo fs60 más vendido (que luego se e
Detalles del producto

Serie 378 - características del microscopio FS - 70 para la detección de semiconductores
1. este sistema óptico fue desarrollado originalmente para el modelo fs60 más vendido (después ascendido al modelo fs70).
Es ideal como microscopio para medir y detectar dispositivos semiconductores.
2. el fs70l admite tres ondas láser YAG (1.064 nm, 532 nm, 355 nm) y el fs70l4 admite dos longitudes de onda (532 nm, 266 nm), que permiten el uso de técnicas de corte láser y película delgada en semiconductores y sustratos lcd. Esto amplía el uso del láser. Sin embargo, el uso de la herramienta de medición Sanfeng para el rendimiento y la seguridad del láser del microscopio, Sanfeng Company es irresponsable. Recomendamos que se revise cuidadosamente al comprar emisores láser.
3. las funciones estándar de fs70z son: campo de visión brillante, contraste de interferencia diferencial (tic) y observación de polarización. Los fs70l y los fs70l4 no admiten tic. 4. el uso de un convertidor incorporado facilita el funcionamiento de las lentes de larga distancia de trabajo.
5. diseño extremadamente fácil de operar: el fs70 utiliza un sistema óptico de imagen positiva (la imagen en el campo de visión está en la misma dirección que la muestra) y aumenta la rueda de mano de ajuste fino con una manija de goma.

Serie 378 - parámetros de rendimiento del microscopio FS - 70 para pruebas de semiconductores

Modelo

FS-70

FS70-TH

FS70Z

FS70Z-TH

FS70L

FS70L-TH

FS70L4

JS70L4-TH

Número de artículo

378 - 184 - 1

378 - 184 - 3

378 - 185 - 1

378 - 185 - 3

378 - 186 - 1

378 - 186 - 3

378 - 187 - 1

378 - 187 - 3

Modelo de base corta

FS70-S

FS70-THS

FS70Z-S

FS70Z-THS

FS70L-S

FS70L-THS

FS70L4-S

FS70L4-THS

Número de artículo

378 - 184 - 2

378 - 184 - 4

378 - 185 - 2

378 - 185 - 4

378 - 186 - 2

378 - 186 - 4

378 - 187 - 2

378 - 187 - 4

Enfoque

Recorrido de 50 mm, enfoque concéntrico grueso (3,8 mm / rev) y ajuste fino (0,1 mm / rev) volante (izquierda, derecha 0)

Imagen

Justo como

Distancia pupilar

Tipo sientopf, rango de ajuste

Número de campos de visión

24

ángulo de inclinación

0 ° a 20 °

0 ° a 20 °

0 ° a 20 °

0 ° a 20 °

Tasa de transmisión

50 / 50

100 / 0 o 0 / 100

50 / 50

100 / 0 o 0 / 100

100 / 0 o 0 / 100

100 / 0 o 0 / 100

100 / 0 o 0 / 100

100 / 0 o 0 / 100

Lente de tubo

Filtro de rayos láser incorporado

Láser aplicable

1 ×

1 ×

1 ×

2 × zoom

1 ×

1 ×

1 ×

1 ×

Láser aplicable

1064/532/355mm

532/355mm

Puerto de la Cámara

C - Mount (con la opción B del sim)

Uso de láminas láser con puertos de televisión

Enchufe C - Mount (con interruptor de conversión de filtro verde)

Sistema de iluminación, opcional

Iluminación reflectante de campo de visión brillante (iluminación kohler, con apertura) fibra óptica de 12v 100w, ajuste de brillo anómalo, longitud de guía de luz: 1,5 m, consumo de energía 150w

Objetivo, opcional

M Plan Apo,M Plan Apo SL, G Plan Apo

Objetivo, opcional

M/LCD Plan NIR

M/L CD Plan NUV

M Plan UV

M Plan UV

Carga útil

14.5kg

13.6kg

14.1kg

13.2kg

14.5kg

13.6kg

14.1kg

13.2kg

Peso (host)

6.1kg

7.1kg

6.6kg

7.5kg

6.1kg

7.1kg

6.6kg

7.5kg


Serie 378 - parámetros técnicos del microscopio FS - 70 para la detección de semiconductores
Enfoque
Método: hay ruedas concéntricas gruesas y afinadas (izquierda y derecha)
Rango: rango de medición de 50 mm, ajuste fino de 0,1 mm / Rev espesor concéntrico de 3,8 mm / Rev
Imagen del tríptico: imagen
Distancia pupilar: tipo siedontof
Rango de ajuste: 51 - 76 mm
Número de campos de visión: 24
ángulo de inclinación: 0 ° - 20 ° (solo para - th, modelo ths)
Sistema de iluminación: iluminación reflectante de campo de visión brillante (iluminación kohler, con apertura)
Fuente de luz: fibra óptica 12v100w, ajuste de brillo anómalo), longitud de guía de luz 1,5 m, consumo de energía 150w
Objetivo (opción): m plan apo, m plan Apo sl, G plan Apo

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