Serie 378 - características del microscopio FS - 70 para la detección de semiconductores
1. este sistema óptico fue desarrollado originalmente para el modelo fs60 más vendido (después ascendido al modelo fs70).Es ideal como microscopio para medir y detectar dispositivos semiconductores.
2. el fs70l admite tres ondas láser YAG (1.064 nm, 532 nm, 355 nm) y el fs70l4 admite dos longitudes de onda (532 nm, 266 nm), que permiten el uso de técnicas de corte láser y película delgada en semiconductores y sustratos lcd. Esto amplía el uso del láser. Sin embargo, el uso de la herramienta de medición Sanfeng para el rendimiento y la seguridad del láser del microscopio, Sanfeng Company es irresponsable. Recomendamos que se revise cuidadosamente al comprar emisores láser.
3. las funciones estándar de fs70z son: campo de visión brillante, contraste de interferencia diferencial (tic) y observación de polarización. Los fs70l y los fs70l4 no admiten tic. 4. el uso de un convertidor incorporado facilita el funcionamiento de las lentes de larga distancia de trabajo.
5. diseño extremadamente fácil de operar: el fs70 utiliza un sistema óptico de imagen positiva (la imagen en el campo de visión está en la misma dirección que la muestra) y aumenta la rueda de mano de ajuste fino con una manija de goma.
Serie 378 - parámetros de rendimiento del microscopio FS - 70 para pruebas de semiconductores
Modelo |
FS-70 |
FS70-TH |
FS70Z |
FS70Z-TH |
FS70L |
FS70L-TH |
FS70L4 |
JS70L4-TH |
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Número de artículo |
378 - 184 - 1 |
378 - 184 - 3 |
378 - 185 - 1 |
378 - 185 - 3 |
378 - 186 - 1 |
378 - 186 - 3 |
378 - 187 - 1 |
378 - 187 - 3 |
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Modelo de base corta |
FS70-S |
FS70-THS |
FS70Z-S |
FS70Z-THS |
FS70L-S |
FS70L-THS |
FS70L4-S |
FS70L4-THS |
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Número de artículo |
378 - 184 - 2 |
378 - 184 - 4 |
378 - 185 - 2 |
378 - 185 - 4 |
378 - 186 - 2 |
378 - 186 - 4 |
378 - 187 - 2 |
378 - 187 - 4 |
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Enfoque |
Recorrido de 50 mm, enfoque concéntrico grueso (3,8 mm / rev) y ajuste fino (0,1 mm / rev) volante (izquierda, derecha 0) |
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Imagen |
Justo como |
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Distancia pupilar |
Tipo sientopf, rango de ajuste |
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Número de campos de visión |
24 |
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ángulo de inclinación |
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0 ° a 20 ° |
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0 ° a 20 ° |
|
0 ° a 20 ° |
|
0 ° a 20 ° |
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Tasa de transmisión |
50 / 50 |
100 / 0 o 0 / 100 |
50 / 50 |
100 / 0 o 0 / 100 |
100 / 0 o 0 / 100 |
100 / 0 o 0 / 100 |
100 / 0 o 0 / 100 |
100 / 0 o 0 / 100 |
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Lente de tubo |
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Filtro de rayos láser incorporado |
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Láser aplicable |
1 × |
1 × |
1 × |
2 × zoom |
1 × |
1 × |
1 × |
1 × |
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Láser aplicable |
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1064/532/355mm |
532/355mm |
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Puerto de la Cámara |
C - Mount (con la opción B del sim) |
Uso de láminas láser con puertos de televisión |
Enchufe C - Mount (con interruptor de conversión de filtro verde) |
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Sistema de iluminación, opcional |
Iluminación reflectante de campo de visión brillante (iluminación kohler, con apertura) fibra óptica de 12v 100w, ajuste de brillo anómalo, longitud de guía de luz: 1,5 m, consumo de energía 150w |
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Objetivo, opcional |
M Plan Apo,M Plan Apo SL, G Plan Apo |
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Objetivo, opcional |
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M/LCD Plan NIR M/L CD Plan NUV |
M Plan UV |
M Plan UV |
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Carga útil |
14.5kg |
13.6kg |
14.1kg |
13.2kg |
14.5kg |
13.6kg |
14.1kg |
13.2kg |
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Peso (host) |
6.1kg |
7.1kg |
6.6kg |
7.5kg |
6.1kg |
7.1kg |
6.6kg |
7.5kg |
Serie 378 - parámetros técnicos del microscopio FS - 70 para la detección de semiconductores
Enfoque
Método: hay ruedas concéntricas gruesas y afinadas (izquierda y derecha)
Rango: rango de medición de 50 mm, ajuste fino de 0,1 mm / Rev espesor concéntrico de 3,8 mm / Rev
Imagen del tríptico: imagen
Distancia pupilar: tipo siedontof
Rango de ajuste: 51 - 76 mm
Número de campos de visión: 24
ángulo de inclinación: 0 ° - 20 ° (solo para - th, modelo ths)
Sistema de iluminación: iluminación reflectante de campo de visión brillante (iluminación kohler, con apertura)
Fuente de luz: fibra óptica 12v100w, ajuste de brillo anómalo), longitud de guía de luz 1,5 m, consumo de energía 150w
Objetivo (opción): m plan apo, m plan Apo sl, G plan Apo