ZEISS Xradia 510 Versa- proveedores globales

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ZEISS Xradia 510 Versa

La versatilidad se puede lograr incluso a grandes distancias de trabajo - de milímetros a pulgadas de la fuente de luz de distancia - utilizando el mi

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Versatilidad incluso a grandes distancias de trabajo - milímetros a pulgadas de la fuente de luz

Lograr nuevos niveles de descubrimiento con la microscopía de rayos X versa3d (xrm) zeissxadia 510, la primera solución in situ / 4D de la industria. Nuestra función única de Raad (resolución a larga distancia) rompe la barrera de resolución de una micra de muestras de milímetros a centímetros.

El instrumento combina perfectamente la resolución y el contraste líderes mundiales con una distancia de trabajo flexible para ampliar la capacidad de imágenes no destructivas en el laboratorio.

Ventajas:

La arquitectura xradiaversa utiliza una tecnología de amplificación de dos niveles que le permite lograr una resolución única en la distancia (raad). En la primera fase, la imagen de la muestra se amplifica a través de una ampliación geométrica, al igual que el microcontacto tradicional. En la segunda fase, el centelleador convierte los rayos X en luz visible y luego los amplifica ópticamente. La reducción de la Dependencia de la ampliación geométrica permite al instrumento xradiaversa mantener una resolución submicron a grandes distancias de trabajo. Esto le permite estudiar eficazmente el mayor número de muestras, incluso en interiores in situ. Además, varias funciones opcionales amplían los beneficios de la arquitectura central del sistema.

Conservar y ampliar el uso de muestras valiosas con imágenes 3D no destructivas

Diseño con un microscopio versa único para lograr la resolución máxima a la distancia máxima de trabajo de la fuente de luz, requisito previo para la imagen in situ y de muestras grandes

Con una ampliación de amplio rango, la imagen a escala de longitud de la misma muestra, la resolución espacial real de menos de 0,7 micras y el tamaño de voxel por debajo de 70 nm.

4D y funciones de campo líderes en la industria, soportan una variedad de plataformas de perforación de campo para imágenes submicron de muestras de tamaño real (mm a pulgadas), con un peso de hasta 25 kg y un tamaño de muestra de hasta 300 mm

Arquitectura única de amplificación en dos etapas, que permite una navegación fácil a través de múltiples sistemas de detección de amplificación, operaciones continuas a través de tomografía computarizada multipunto automática y escaneo repetido, y reconstrucción a alta velocidad

Absorción avanzada y contraste de materiales y tejidos blandos de baja Z

Scout-and-Scan ™ El sistema de control, una configuración de flujo de trabajo fácil de usar, es una opción ideal en un entorno multiusuario.

Resolución espacial submicron real de la fuente a milímetros a pulgadas:

Xradia510 versa maximiza la eficacia de la microscopía de rayos X (xrm) y permite imágenes 3D flexibles en varios entornos de Investigación. La resolución espacial real de la xradia510versa es superior a 0,7 micras y el tamaño de voxel que se puede lograr es inferior a 70 nm. al experimentar la versatilidad de materiales blandos o de baja Z con un contraste de absorción avanzado y un contraste de fase innovador, se superan las limitaciones de las tomografías computarizadas tradicionales.

Lograr un rendimiento más allá del micro - CT y ampliar la investigación científica más allá de los límites de los sistemas de tabletas. La tomografía computarizada tradicional depende de la amplificación de una sola etapa, y el instrumento xadiaversa utiliza un proceso único de dos etapas basado en un sistema óptico de apertura de sincrotrón, cuyo sistema de detección está optimizado para alta resolución en resolución, contraste y gran distancia de trabajo. Con la resolución Zeiss de larga distancia (raad), puede lograr una exploración basada en laboratorio sin precedentes para diversas aplicaciones y tipos de muestras.

Los rayos X no destructivos y la función de zoom de longitud flexible le permiten visualizar la misma muestra a diversas amplitudes. Como líder de la industria en soluciones 4D / in situ, con la ayuda de xadiaversa, puede estudiar la microestructura de materiales característicos de la superficie únicos en su entorno nativo y estudiar la evolución de las propiedades con el tiempo. El kit opcional versa in situ le permite optimizar la configuración, simplificar la operación y proporcionar un tiempo de resultados más rápido, organizando instalaciones que admitan plataformas de perforación in situ, como cableado y tuberías, para maximizar el rendimiento de imagen y la facilidad de uso.

Además, el sistema de control Scout - and - Scan permite un entorno de flujo de trabajo eficiente a través de la configuración basada en fórmulas, lo que facilita a los usuarios con diversos niveles de experiencia la xradia510versa.

Mínimo necesario para la preparación de muestras

El versainsitukit opcional puede organizar instalaciones que admitan salas ambientales, como cableado y tuberías, para lograr un rendimiento óptimo de imagen y simplificar la configuración

La opción autoloader le permite programar y ejecutar hasta 14 muestras a la vez, maximizando así la eficiencia de la producción y logrando un flujo de trabajo automatizado de escaneo de alta capacidad.

Máquina de medición opcional de tres coordenadas

Máquina de medición de tres coordenadas de puente

Plataforma de medición de escaneo Zeiss Spectrum

ZEISS PRISMO

ZEISS ACCURA

Zeiss micura tamaño pequeño * precisión

Zeiss contrara compacto

ZEISS XENOS

Zeiss Spectrum móvil

Zeiss micura móvil

ZEISS CONTURA

ZEISS PRISMO

ZEISS CONTURAZEISS ACCURA

Tres coordenadas compuestas

ZEISS O-INSPECT322

ZEISS O-INSPECT543

ZEISS O-INSPECT863

Máquina de medición de tres coordenadas de alta precisión de pórtico grande

ZEISS MMZ G

ZEISS MMZ M

ZEISS MMZ T

Producción de máquinas de medición de tres coordenadas

ZEISS CenterMax

ZEISS GageMax

ZEISS DuraMax

Máquina de medición de tres coordenadas en voladizo

ZEISS CALENO

ZEISS PRO/PRO T

ZEISS CARMET

Máquina de medición de tomografía computarizada

ZEISS METROTOM 6 scout

ZEISS Xradia610 & 620 Versa

ZEISS Xradia 800 Ultra

ZEISS Xradia 810 Ultra

ZEISS Xradia Context microCT

ZEISS Xradia 410 Versa

ZEISS Xradia 510 Versa

Gabinete de blindaje de rayos X Zeiss SRE maxx

ZEISS METROTOM 800

ZEISS METROTOM 1500

Procedimientos de control e inspección del proceso de producción

ZEISS VoluMax

ZEISS SurfMax

Robot de medición en línea

Estación de medición mixta

Estación de trabajo robótica fuera de línea

Estación de medición y detección 2d

Guía robótica

Solución de medición Zeiss

Wittmann

Nidec Motors

Henschel

GRASS

Cummins

LT Ultra

SABS

Fundición a presión de xiongbang

Volkswagen

Bosch

IAC

Agusta Westland

Andrew Tool

Jamco Aeropspace

Three-M Tool

Moventas

Pietro Rosa

PMT India

Rochester Precision Optics

Schwan Cosmetics

Agfa Healthcare

CardioBridge

MeadWestvaco

Braun

starlim//sterner

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