Caja de pruebas de cambio rápido de temperatura wbe:

1. se aplica la prueba de detección de estrés ambiental (ess) de productos electroelectrónicos y eléctricos, y la detección de estrés térmico, la detección de temperatura y humedad, la prueba de fiabilidad, la prueba de rendimiento, la prueba de resistencia a la intemperie, el almacenamiento a alta y baja temperatura de las piezas de prueba en condiciones de rápido cambio de temperatura o gradiente.

2. el producto cumple con el cambio de valor fijo de la temperatura (método de temperatura de aumento lineal) y la temperatura de aumento no lineal.

3. cumplir con los requisitos de velocidad de cambio de temperatura de 5 a 30 ° C / min.

4. se pueden personalizar bajo demanda (humedad) requisitos de prueba, cumpliendo con los volúmenes estándar de 150l a 4600l y otros modelos de personalización no estándar.

Áreas de aplicación:

Chips semiconductores, colegios de investigación científica, inspección de calidad, nueva energía, comunicaciones fotoeléctricas, industria militar aeroespacial, industria automotriz, pantalla lcd, atención médica y otras industrias tecnológicas.

Le ofrecemos un programa de pruebas de la industria las 24 horas del día y necesidades personalizadas no estándar.

Para más detalles del producto, consulte 139 - 2290 - 2928

1. la velocidad de subida y bajada de temperatura es opcional:5 a 30 ° C / minV;

2. el producto está diseñado con una caja integrada, con una estructura más razonable y compacta;

3. adoptar la tecnología de válvulas de expansión electrónicas y el sistema de control innovador para que los productos sean eficientes y eficientes energéticamente.Más del 30%V;

4. monitoreo del sistema de todo el ciclo de vida, protección múltiple y mantenimiento conveniente.

1. se puede personalizar bajo demanda (x: lineal, f: no lineal) método de aumento y disminución de la temperatura. 2. la humedad es opcional.

I. cumplir con los estándares de prueba:

GB / T 2423.1 métodos de prueba a baja temperatura

Gjb 150.3 prueba de alta temperatura

GB / T 2423.2 métodos de prueba de alta temperatura

Gjb 150.4 prueba a baja temperatura

GB / t2423.34 método de prueba de ciclo húmedo y caliente

Gjb 150.9 prueba húmeda y caliente

Iec60068 - 2 método de prueba de temperatura y humedad

Prueba de humedad mil - STD - 202g - 103b

2. estándares de prueba compatibles:

IEC - 60749 - 25: dispositivos semiconductores - ciclo de temperatura

IEC - 60068 - 2 - 14 nb: pruebas ambientales - cambios de temperatura

IEC - 61747 - 5: dispositivos de visualización LCD y de estado sólido - métodos de prueba ambientales, de durabilidad y mecánicos

Jesd22 - a105 - c: dispositivos de Estado sólido, calidad y fiabilidad de las pruebas - ciclo de potencia y temperatura

SAE - j1211: prácticas ambientales recomendadas para el diseño de componentes automotrices - dispositivos electrónicos

IPC - 9701: métodos de prueba de rendimiento y requisitos de calificación para accesorios de soldadura de montaje de superficie