Sistema de prueba libs de resolución espacial a escala de micrones - meeplibs
Meeplibs puede hacer análisis de elementos resueltos espacialmente a escala de micras, logrando una combinación con la implementación tradicional del microscopio * con calibres de análisis estándar de 15 y 18 micras (zui puede ser de 4 micras), que se pueden probar en un ambiente atmosférico a temperatura ambiente o en un ambiente específico.
Ampliamente utilizado en el análisis de elementos en tiempo real de la resolución espacial a escala de micras de materiales semiconductores y materiales de paneles.
Características del sistema:
Fuente de luz: fuente de luz láser ultravioleta de 266 nm
Con la función de conformación de haz láser con atenuador, el software de potencia láser es ajustable
Se puede realizar el control automático de temperatura del sistema de detección.
Se configura una cámara en el sistema, y el usuario puede observar el área de muestra de la prueba en tiempo real.
Equipado con una mesa de ajuste tridimensional eléctrica para calibrar la posición de enfoque láser y mejorar la precisión de repetibilidad experimental, la muestra se puede secuenciar.
Puede analizar y medir todos los elementos que incluyen la masa Zui ligera
Detección rápida sin preprocesamiento de muestras